Brugte Chotest Sj5760 til salg (1)
Sorter resultater
- Laveste pris Højeste pris
- Seneste annoncer Ældste annoncer
- Korteste afstand Største afstand
- Nyeste produktionsår Ældste produktionsår
- Seneste opdatering Ældste opdatering
- Producenter fra A til Z Producent fra Z til A
- Relevans
- Laveste pris
- Pris
- Højeste pris
- Pris
- Seneste annoncer
- Opslået den
- Ældste annoncer
- Opslået den
- Korteste afstand
- afstand
- Største afstand
- afstand
- Nyeste produktionsår
- Produktionsår
- Ældste produktionsår
- Produktionsår
- Seneste opdatering
- Opdatering
- Ældste opdatering
- Opdatering
- Producenter fra A til Z
- Producent
- Producent fra Z til A
- Producent
- Betegnelse fra A til Z
- Betegnelse
- Betegnelse fra Z til A
- Betegnelse
- Model fra A til Z
- Model
- Model fra Z til A
- Model
- Laveste reference
- reference
- Højeste reference
- reference
- Korteste driftstid
- Driftstid
- Længste driftstid
- Driftstid
- Relevans
- Relevans
Lille annonce
Leonberg
831 km
Kontur- og overflademålesystem
ChotestSJ5760
Ring op
Stand: næsten som ny (udstillingsmaskine), Produktionsår: 2024, driftstimer: 15 h, Præcist profil-måleapparat | Meget god stand | Klar til brug med det samme
Til salg: Chotest SJ-5760P – et højpræcist konturmålingsinstrument til geometrisk profilanalyse inden for kvalitetsstyring, værktøjsfremstilling, maskinindustri og forskning. Enheden muliggør nøjagtige målinger med stor bevægelsesfrihed og stabil granitbase.
⸻
Stand
• Brugt, teknisk kontrolleret
• Fuld funktionalitet
• Meget velholdt stand
⸻
Tekniske highlights – Chotest SJ-5760P
Arbejdsslag
• X-akse: 0–200 mm
• Z-akse: 0–450 mm
• Maskindimensioner: 800 × 450 × 1100 mm
• Vægt: 220 kg
⸻
Lsdpfx Aox Db Stek Djaa
Profilmåling (SJ-5760P)
• Måleområde Z1: ±25 mm
• Opløsning: 0,001 µm
• Måleretning: Op/Ned
• Målehastighed: 0,05–5 mm/s
• Positioneringshastighed: X/Z op til 20 mm/s
• Målekraft: 10–150 mN, justerbar
• Føringsafvigelse: ≤1 µm / 200 mm
Nøjagtighed
• X-visningsfejl: ±(0,5 + 0,015L) µm
• Z1-visningsfejl: ±(0,5 + 0,05H) µm
• Distance: ±(0,8 + 0,02L) µm
• Radius: ≤(1 + R/15) µm
• Vinkel: ≤±45''
⸻
Særlige egenskaber ved udstyret
• Ideel til præcise kontur- og profilopmålinger
• Ekstremt høj vertikal opløsning (0,001 µm)
• Meget stabil granitbase sikrer vibrationsfri måling
• Store arbejdsområder til forskellige komponentgeometrier
• Brugervenlig og driftssikker måleteknik
• Velegnet til mikrometerpræcise formmålinger i laboratorie og produktion
Vi gør det nemmere for dig at søge: "chotest sj5760"
Du modtager straks og gratis nye tilbud pr. e-mail.
Du kan til enhver tid nemt afslutte søgeopgaven.





