Brugte Cameca Elektronmikroskop til salg (5)

Stand: brugt, Funktionalitet: ukontrolleret, maskine/køretøjsnummer: SX-50, Brugt Cameca SX-50 Elektron Mikrosonde Cameca SX-50 elektronmikrosonde anvendes til Elektron Probe MicroAnalysis (EPMA). Den har et 6" (tommer) prøvestadie, 3 WDX-spektrometre med flere krystaller: LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2 og PC3. Elektron probe mikroanalyse (EPMA) er generelt anerkendt som en mikroanalytisk metode, der kan billeddanne eller analysere materialer, som ikke kan observeres med den opløsning, som synlige teknikker tilbyder. Systemet leveres komplet med alle bøger, servicemanualer, software og computer. Der medfølger også mange reservedele. 1 x Leybold Trivac D16B vakuumpumpe Laedswnb D Topfx Algjh 1 x Alcatel 2012 A vakuumpumpe 2 x integrerede turbopumper

Stand: brugt, ZEISS Type: DSM 962 Det digitaliserede rasterelektronmikroskop DSM 962 er en enhed, der er udstyret med et integreret 4 MB-billedhukommelse, en 40 MB-harddisk til intern billedlagring samt drev til ekstern lagring af data og billeder. Dette gør det muligt hurtigt og nemt at opnå viden om sammensætningen og morfologien af prøvernes overflade, helt ned i submikrometerområdet. Med et forstørrelsesområde fra 5x til 300.000x er det muligt at undersøge både makrostrukturer og mikrostrukturer. Gennem specielle tilføjelser kan anvendelsesområdet udvides yderligere, hvilket f.eks. gør det muligt at udføre analytiske undersøgelser i mikroområder af overfladen. Betjeningen af enheden kan ske via konventionelle betjeningselementer eller via tastatur og mus (ekstraudstyr). Elektronoptikken og vakuumstyringen er konventionelle. Funktionen i billedhukommelsen betjenes via tastatur eller mus (ekstraudstyr). Centralt på betjeningspanelet er der en separat informationsskærm til visning af menuer. Denne brugervejledning skal fungere som en vejledning for brugeren, så de opnår de bedst mulige resultater med enheden. Forklaringerne er holdt så simple som muligt for at give selv en mindre erfaren bruger de nødvendige færdigheder. Forstørrelsesområde: 20x til 300.000x ved 7 mm arbejdsafstand Trin i en sekvens: 1-2-3-5-10 Minimumsforstørrelse: 5x ved 50 mm arbejdsafstand Opløsning: 4 nm – garanteret med wolframkatode ved 30 kV, 6 mm arbejdsafstand, ikke-tiltet prøve 25 nm – garanteret med wolframkatode ved 1 kV, 6 mm arbejdsafstand, ikke-tiltet prøve 3,5 nm – garanteret med optimal LaB6-katode ved 30 kV, 6 mm arbejdsafstand, ikke-tiltet prøve Leveringsomfang: (DSM 962 med tilbehør som vist på billedet) Stand: brugt (Ændringer og fejl i de tekniske data forbeholdes!) Laodpfx Alezdthyegoh Spørg om transportmulighederne, før du køber. Vi svarer gerne på yderligere spørgsmål over telefonen.

Produktionsår: 2025, stand: næsten som ny (udstillingsmaskine), Funktionalitet: fuldt funktionsdygtig, Beskrivelse (detaljeret udstyr): o 5-akset trin o Moderne, udvidelig brugergrænseflade med EDX-integration og billedmontage o SE-detektor o Scintillator-BSE-detektor o In-lens-detektor o Lavvakuum-system med BSE-detektor o Fuldt softwareintegreret JEOL-EDX-system o Strømmåling i kolonnen o Navigationskamera o Live-kamera Lajdpfx Aozn Ihpslgsh o Betjeningspanel o Skrivebord, pc med Windows-operativsystem, 2 x 24" monitor, tastatur

Stand: meget god (brugt), Type: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 rasterelektronmikroskop (PC-SEM) Moderne, højopløselig digital rasterelektronmikroskop med nyudviklet elektronoptik og intuitiv, grafisk brugergrænseflade (GUI) under Microsoft Windows XP Professional. Ledpfozd Ufasx Algeah Udstyr inklusive følgende funktioner: Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X Accelerationsspænding: 0,3 - 30 kV Wolfram-hårnålskatode (LaB6-katode som tilvalg) Stor fuldt motordrevet prøvebord med excentrisk tiltning, inkl. grafisk navigation på prøveholderen Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom Billedfeltstyret navigation via 2 navigatorer Relativ koordinatnavigation Gem og genkald prøvepositioner Justérbar udsnitsfunktion for prøven Billedfeltkorrektion under rotation via computersstyret excentrisk rotation Billedfeltkorrektion ved tiltning via computersstyret excentrisk tiltning Beregnelse af mulig tiltvinkel baseret på prøvegeometri Automatisk fokusjustering ved bevægelse af prøven i Z-aksen Intelligente grænsekontakter for de motoriserede akser Prøvebordets bevægelsesområde: x = 125 mm y = 100 mm z = 5 til 80 mm (trinfrit) T = -10°C til +90°C R = 360°C (endeløs) Sekundære elektron detektor til højvakuumdrift Innovativ, superkonisk objektivlinse garanterer højeste billedopløsning selv ved store tiltvinkler Garanteret opløsning i SE-billedet: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV Simultan live-billedfremvisning fra flere detektorer Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom Effektive billedmålefunktioner Filmfunktion til optagelse af dynamiske processer Alsidig prøvekammer med talrige udvidelsesmuligheder: frie flanger, f.eks. til EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens etc. Vedligeholdelses- og slidstærkt, støjsvagt pumpesystem bestående af forpumpe, vibrationsfri højtydende diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilkontrol Omfattende fejlbeskyttelse mod forkert betjening og svigt af eksterne medier Ergonomisk, højdejusterbart systembord SEM-starterkit bestående af 2 prøveholdere, værktøjssæt samt 6 reservekatoder Ekstraudstyr til rasterelektronmikroskop: Turbomolekylpumpe i stedet for standard-diffusionspumpe Ved brug af turbomolekylpumpe er der ikke længere behov for kølevand til SEM-drift. Yderligere SEM-udstyr: PC til styring af SEM inklusive TFT-skærm ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED Bruker EDX-software overføres til den nye ejer efter køb! Nitrogenfri, energidispersivt røntgenanalysesystem inkl.: SDD-detektor med 127 eV eller bedre energiopløsning Påvisning af alle elementer fra bor Vibrationsfri, vedligeholdelsesfri. Peltierkølet (uden nitrogen) Pulsprocessor TFT-skærm Spektrummåling og elementidentifikation Fuldautomatisk, kvantitativ, standardfri elementanalyse Billedoptagelse Ekstrem hurtig kvalitativ Line Scan Ekstrem hurtig kvalitativ Element Mapping Datastyrings- og arkiveringssystem Rapportgenerering og resultatudskrivning Datakommunikation Installation og introduktion HyperMap Multipunktanalyse Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhed SVE III Leveringsomfang: (se fotos) Stand: brugt (Forbehold for ændringer og fejl i de angivne tekniske data!)

Produktionsår: 2024, stand: næsten som ny (udstillingsmaskine), Funktionalitet: fuldt funktionsdygtig, JCM-7000 kombinerer enkel prøve-navigation med en række avancerede autofunktioner. Et stort prøvekammer, høj opløsning og en tilkoblingsbar lavvakuumtilstand til ikke-ledende prøver gør dette desktop-SEM til et mobilt alsidighedsværktøj. Egenskaber: • SE-/BSE-detektionssystem Lodezn Ih Aopfx Algeah • Forstørrelse op til x100.000, opløsning ca. 8nm • Lavvakuum tilstand til ikke-ledende prøver • Hard- og softwareintegreret EDX-system til elementkarakterisering • Live elementanalyse, live billeddannelse (inkl. 3D-billede/topografi) • Intuitiv betjening med opskrifter, autofunktioner, billedmontager m.m. • Stort kammer til prøver op til 80 mm Ø eller 50 mm højde • Kompakt og mobil • Dimensioner (hovedenhed): 324 mm B x 586 mm D x 566 mm H