Ukendt komponent

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Produktionsår: 2025, Betingelse: ny, Røntgeninspektionssystem til mellemstore pakker og poser. Velegnet til detektering af fremmedlegemer af metal, glas, sten, plast etc. i fødevarer eller non-food produkter. - Specifikationer: Bredde på transportbånd: 410 mm; Detektionsnøjagtighed: Pb fra Ø 0,2 mm, Fe fra Ø 0,28 mm, SUS fra Ø 0,28 mm, ikke-metalliske som sten og glas fra Ø 1,2 mm; Røntgeneffekt: 80 kVp, 1,25 mA; Detektoropløsning: 0,4 mm; Røntgenstrålingsudslip: < 1 μSv/h; Transportbåndshøjde: 850 ± 30 mm; Transporthastighed (afhænger af produkt): 10–100 m/min; Betjeningsflade: 15" touchscreen; Software: intellisens®X-ray; Driftstemperatur: 5–35 °C; Udkastssystem: fås som ekstraudstyr efter krav; Strøm: 220VAC, 50/60Hz; Systemdimensioner: L900xB920xH1825 mm; Vægt: 350 kg. Tjdpov Nm Insfx Ahvsf Bemærk, at vores nypriser ofte ligger under gængse brugtpriser. Spørg gerne, og oplys os om din pakkeopgave. – Fra lager har vi typisk altid 30-50 forskellige nye maskiner klar til hurtig levering. For kundespecifikke maskiner tilbyder vi normalt meget korte leveringstider fra ca. 3 uger. – Alle maskiner leveres med fuld garanti.

Betingelse: Defekt reservedelsbærer (brugt), Oxford Instruments X-Strata 960 røntgenfluorescensanalyzer – reservedelsdonor / defekt Varebeskrivelse: Til salg er en brugt røntgenfluorescensanalyzer af typen Oxford Instruments X-Strata 960. Enheden stammer fra en laboratorieafvikling og udbydes udelukkende som reservedelsdonor eller til reparationsformål. Der er ikke foretaget en funktionskontrol – derfor sælges udstyret som defekt, i henhold til denne annoncetekst. Tekniske data – Oxford Instruments X-Strata 960 (uden garanti for fuldstændighed) Egenskab Beskrivelse Model: X-Strata 960 Tjdohaapfjpfx Ahvsf Producent: Oxford Instruments Analyseteknologi: Røntgenfluorescens (XRF) Anvendelsesområder: Lagtykkelsesmåling, materialeanalyse, ædelmetalkontrol Måleprincip: Stråling op- eller nedad (afhængig af konfiguration) Strålingskilde: Røntgenrør (fx rhodium-anode), 50–100 W effekt Detektor: Proportionaltæller eller silicium-drift-detektor (SDD), afhængigt af version Måleområde (lagtykkelse): ca. 0,005 – 50 µm (afhængig af materiale) Spotstørrelse: ca. 15 μm – 1 mm (afhængig af kollimator) Z-akse: Motorisk justerbar, op til ca. 230 mm målehøjde Prøverum (B × D × H): ca. 580 × 510 × 230 mm Prøvebord: Manuel eller motoriseret (200 × 200 mm eller større, afhængig af udstyr) Fokuseringssystem: Optisk / laserfokus, delvist automatisk Operativsystem: Integreret industri-pc med Windows-baseret evalueringssoftware Strømforsyning: 220–240 V / 50–60 Hz / ca. 500–800 W Vægt: ca. 150–200 kg (afhængig af version) Stand: brugt / defekt / som reservedelsdonor Leveringsomfang: ifølge billeder – uden tilbehør eller software Vigtige bemærkninger: Sælges udtrykkeligt som defekt uden funktionsgaranti. Varen udbydes som reservedelsdonor eller til gør-det-selv-formål. Ingen garanti for funktion, fuldstændighed eller tekniske specifikationer. Erhvervssalg med udelukkelse af enhver mangelansvar, jf. § 447 BGB (forsendelseskøb). Leveringsomfang: - Oxford Instruments X-Strata 960 - Alle komponenter, der vises på billederne Yderligere dele, tilbehør eller dokumentation medfølger kun, hvis det udtrykkeligt er nævnt. Forsendelse & afhentning: Afhentning mulig og foretrukket i Borken Forsendelse kan aftales individuelt. (Ændringer og fejl i tekniske data og specifikationer forbeholdes!) Yderligere spørgsmål besvares gerne telefonisk.

Produktionsår: 2016, Betingelse: meget god (brugt), Automatisk røntgeninspektion Til inspektion af BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- og andre lodninger, som kan være synlige eller skjulte. Andet: Inkl. offline-station og reparationstation OS: Windows 7 Ultra-hurtige line-scan CCD-detektorer Inspektionsområde: 450 mm x 400 mm Billedoptagelse: 2D, 2,5D, 3D (lagbilleder med planær CT) PCB-dimensioner: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-opløsning: 6 - 30 µm / px AOI: Kameraets synsfelt: 42 mm x 42 mm Opløsning: 21 µm Inspektionshøjde: -3 til 7,5 mm Optik: telecentrisk Transporthøjde: 950 mm +/- 25 mm Tedpfx Ahowpuadevef Interface: SMEMA Automatisk breddejustering

Produktionsår: 2016, Betingelse: klar til brug (brugt), Et næsten nyt Anritsu røntgeninspektionssystem er tilgængeligt. Røntgeneffekt: 100W, maks. detektionsbredde: 240mm, maks. detektionshøjde: 120mm, detektionshastighed fra 2kg til 5kg: 10m-60m/min, detektionshastighed op til 2kg: 60m-90m/min, detektionshastighed fra 5kg til 10kg: 10m-40m/min, kabinetmateriale: rustfrit stål, maskinens vægt: ca. 255kg, driftstimer: under 50 timer. Maskinen har ingen slitage på transportbåndet eller strålebeskyttelsens forhæng. Dokumentation foreligger. Besigtigelse på stedet er mulig. Todjvzr Aujpfx Ahvjf

Betingelse: brugt, PANalytical X’Pert PRO MPD røntgendiffraktometer (XRD) Udtræk fra servicerapport: Enhed: PANalytical X’Pert PRO MPD Dato: 07.07.2021 Udførte arbejder: - Genopstilling og ibrugtagning af systemet Tjdowycatspfx Ahvof - Tilslutning af eksterne forsyningsledninger - Opvarmningsfase - Fuld justering af goniometer og øvrige komponenter - Udførelse af vedligeholdelsesarbejde inkl. udskiftning af defekte dele Benytte reservedele: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, NI-CD Blæser til X-CELERATOR UNIT FAN Filter, vand Motor PW3050 (”Enheden blev ikke testet hos os”) X’Pert PRO MPD er et meget alsidigt og kraftfuldt røntgendiffraktometer (XRD) til strukturel karakterisering af krystallinske materialer – ideel både til grundforskning og rutineanvendelser i industri og universiteter. Takket være det modulære design, hurtig detektor, temperatur- og atmosfærekontrol er det velegnet til både rutinemæssige analyser og komplekse in-situ-eksperimenter. Vigtige funktioner: Fleksible målbare geometrityper: Refleksion i Bragg-Brentano (θ–2θ) mode Transmissionsgeometri for pulver i kapillærer Valgfrit også SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) til nanostrukturer Strålingskilde og detektorer: Typisk kobber-anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) X’Celerator detektor (1D, ultrahurtig) til parallel datalæsning Modulopbygget system med PreFIX-teknologi: Hurtigt skift af optik og prøveborde uden rekalibrering In-situ målinger ved høje temperaturer: Målinger op til ca. 1200°C muligt Kontrolleret atmosfære: luft, nitrogen, ilt (reducerende begrænset) Typiske anvendelser: Faseanalyse og kvantitativ Rietveld-evaluering Bestemmelse af krystallitstørrelse, mikrodeformation, egenspændinger In-situ-undersøgelse af faseovergange, oxidation, krystallisering m.m. SAXS-målinger til analyse af nanopartikler og porestrukturer Bredt prøvespektrum: pulver, tyndfilm, keramik, farmaceutiske materialer, katalysatorer m.m. Tekniske data (typisk) Egenskab og specifikation Vinkelområde (2θ): ca. 0,5° til 150° Trinbredde ned til 0,002° eller finere Goniometer vertikal, 0–0, radius ca. 240 mm Temperaturområde: stuetemperatur op til ca. 1200°C Atmosfære: luft, N₂, O₂ (reducerende begrænset) Detektorer: X’Celerator (1D), proportionaltæller Udbredelse & anvendelsessteder: X’Pert PRO MPD bruges verden over, bl.a. på: Universiteter (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien) Forskningsinstitutter (fx Max-Planck-Institutter, ICN2, IS2M) Industri (fx materialeudvikling, pharma, kemi) Stand: brugt / used Leveringsomfang: (se billede) (Rettelser og fejl i tekniske data forbeholdes!) Yderligere spørgsmål besvares gerne på telefon.

Betingelse: god (brugt), Helmut Fischer Fischerscope røntgenfluorescenslagtykkelsesmåling XDL-XYmZ Tedew Hbkdspfx Ahvsf