Røntgen lagtykkelsesmålerHelmut Fischer
FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8
Røntgen lagtykkelsesmåler
Helmut Fischer
FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8
Fast pris plus moms
3.500 €
Stand
Brugt
Beliggenhed
Borken 

Grunddata
- Maskinbetegnelse:
- Røntgen lagtykkelsesmåler
- Producent:
- Helmut Fischer
- Model:
- FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8
- Stand:
- meget god (brugt)
Pris og placering
Fast pris plus moms
3.500 €
- Beliggenhed:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Ring op
Detaljer om tilbuddet
- Annonce-ID:
- A22811900
- Referencenummer:
- 25371
- Opdatering:
- sidst den 25.09.2026
Beskrivelse
HELMUT FISCHER
Røntgenfluorescensmåleinstrument / Lagtykkelsesmåleinstrument
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Professionelt røntgenfluorescensmålesystem
til lagtykkelsesmåling og materialeanalyse
Til salg er et brugt røntgenfluorescensmåleinstrument
fra producenten Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Tyskland.
FISCHERSCOPE X-RAY er velegnet til ikke-destruktiv lagtykkelsesmåling
og materialeanalyse ved hjælp af røntgenfluorescens (RFA/XRF).
Systemet er designet til måling af funktionelle lag, korrosionsbeskyttende lag
samt forskellige metalliske belægninger og anvendes
i kvalitetskontrol, laboratorier, forskning og produktion.
Tekniske data:
Producent: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Model: FISCHERSCOPE X-RAY
Type: XDL-XYZpT8
Serienummer: SN010002436
Fremstillet i Tyskland
CE-mærkning til stede
Podpfx Aez Egi Ron Hogt
Målesystem:
Røntgenfluorescensmåleinstrument (RFA / XRF)
Til ikke-destruktiv lagtykkelsesmåling
Velegnet til funktionelle lag og korrosionsbeskyttende lag
Stort målekammer med C-åbning
Standard-røntgenrør
Proportionaltællerør
Fast blænde og fast filter
DCM-vandring 0–80 mm
Elektriske data:
Forsyningsspænding: 230 V AC
Frekvens: 50–60 Hz
Strømforbrug: 120 W
Tilslutninger:
Strømtilslutning
Seriel grænseflade (Sub-D)
Yderligere tilslutninger som vist på billederne
Udstyr:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY måleinstrument
Målekammer med beskyttelseshætte
Software
Brugervejledning
Yderligere tilbehør som vist på billederne
Anvendelsesområder:
Lagtykkelsesmåling
Materialeanalyse
Røntgenfluorescensanalyse (XRF)
Kvalitetskontrol
Galvanisering
Overfladebehandling
Materialeprøvning
Laboratorium
Forskning og udvikling
Leveringsomfang:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Software
Brugervejledning
Leveringsomfang som vist på billederne
Stand:
Brugt
Enheden stammer fra en lageroprydning.
Visuel stand som vist på billederne.
Vigtig bemærkning:
Enheden er ikke blevet testet af os og sælges udtrykkeligt
uden test og uden garanti.
Bordet eller andre genstande, der er afbildet på billederne, og som ikke er
udtrykkeligt nævnt, er ikke en del af salget.
Forsendelse på grund af størrelse og vægt mulig via fragtfirma.
Ændringer, fejl og mellemsalg forbeholdes.
Yderligere spørgsmål kan besvares telefonisk.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Røntgenfluorescensmåleinstrument / Lagtykkelsesmåleinstrument
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Professionelt røntgenfluorescensmålesystem
til lagtykkelsesmåling og materialeanalyse
Til salg er et brugt røntgenfluorescensmåleinstrument
fra producenten Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Tyskland.
FISCHERSCOPE X-RAY er velegnet til ikke-destruktiv lagtykkelsesmåling
og materialeanalyse ved hjælp af røntgenfluorescens (RFA/XRF).
Systemet er designet til måling af funktionelle lag, korrosionsbeskyttende lag
samt forskellige metalliske belægninger og anvendes
i kvalitetskontrol, laboratorier, forskning og produktion.
Tekniske data:
Producent: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Model: FISCHERSCOPE X-RAY
Type: XDL-XYZpT8
Serienummer: SN010002436
Fremstillet i Tyskland
CE-mærkning til stede
Podpfx Aez Egi Ron Hogt
Målesystem:
Røntgenfluorescensmåleinstrument (RFA / XRF)
Til ikke-destruktiv lagtykkelsesmåling
Velegnet til funktionelle lag og korrosionsbeskyttende lag
Stort målekammer med C-åbning
Standard-røntgenrør
Proportionaltællerør
Fast blænde og fast filter
DCM-vandring 0–80 mm
Elektriske data:
Forsyningsspænding: 230 V AC
Frekvens: 50–60 Hz
Strømforbrug: 120 W
Tilslutninger:
Strømtilslutning
Seriel grænseflade (Sub-D)
Yderligere tilslutninger som vist på billederne
Udstyr:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY måleinstrument
Målekammer med beskyttelseshætte
Software
Brugervejledning
Yderligere tilbehør som vist på billederne
Anvendelsesområder:
Lagtykkelsesmåling
Materialeanalyse
Røntgenfluorescensanalyse (XRF)
Kvalitetskontrol
Galvanisering
Overfladebehandling
Materialeprøvning
Laboratorium
Forskning og udvikling
Leveringsomfang:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Software
Brugervejledning
Leveringsomfang som vist på billederne
Stand:
Brugt
Enheden stammer fra en lageroprydning.
Visuel stand som vist på billederne.
Vigtig bemærkning:
Enheden er ikke blevet testet af os og sælges udtrykkeligt
uden test og uden garanti.
Bordet eller andre genstande, der er afbildet på billederne, og som ikke er
udtrykkeligt nævnt, er ikke en del af salget.
Forsendelse på grund af størrelse og vægt mulig via fragtfirma.
Ændringer, fejl og mellemsalg forbeholdes.
Yderligere spørgsmål kan besvares telefonisk.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Send anmodning
Telefon & Fax
+49 2861 ... annoncer
Du kan også være interesseret i disse annoncer.
Succesfuld
Din besked er blevet sendt.
Annoncer
Borken
516 km
Måleplade
Helmut Fischer FischerscopeXDL-B XYmZ
Helmut Fischer FischerscopeXDL-B XYmZ
Din annonce er blevet slettet
Der opstod en fejl



























