MålesystemASML
YieldStar S-200B
Målesystem
ASML
YieldStar S-200B
Produktionsår
2011
Betingelse
Brugt
Beliggenhed
Dresden 

Vis billeder
Vis kort
Oplysninger om maskinen
- Maskinbeskrivelse:
- Målesystem
- Fabrikant:
- ASML
- Model:
- YieldStar S-200B
- Produktionsår:
- 2011
- Betingelse:
- meget god (brugt)
- funktionalitet:
- fuldt funktionsdygtig
Pris og placering
- Beliggenhed:
- Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, DE
Ring
Maskinsalg

Har du allerede indrykket din brugte maskine?
Sælg via Machineseeker uden provision.
Mere om maskinsalg
Mere om maskinsalg
Detaljer om tilbuddet
- Noterings-id:
- A19967480
- Referencenr.:
- DV10125
- Sidst opdateret:
- d. 10.09.2025
Beskrivelse
Optisk overlay-metrologisystem, Advanced Semiconductor Materials Lithography stand-alone overlay-metrologisystem til 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Årgang: 2011
Dsdpfx Adsxbnt Esnsku
Tekniske data:
Waferstørrelse: 300 mm (12")
Laser kilde: LPPS, vandkøling
Generelt:
YSS200B er et optisk overlay-målesystem, der anvendes til hurtig og højpræcis måling af overlay-afvigelser på 300 mm wafers – typisk til overvågning efter ætsning for proceskontrol i produktionen som et selvstændigt system.
Annoncen blev oversat automatisk, og der kan forekomme nogle oversættelsesfejl.
Model: S200B
Type: YieldStar
Årgang: 2011
Dsdpfx Adsxbnt Esnsku
Tekniske data:
Waferstørrelse: 300 mm (12")
Laser kilde: LPPS, vandkøling
Generelt:
YSS200B er et optisk overlay-målesystem, der anvendes til hurtig og højpræcis måling af overlay-afvigelser på 300 mm wafers – typisk til overvågning efter ætsning for proceskontrol i produktionen som et selvstændigt system.
Annoncen blev oversat automatisk, og der kan forekomme nogle oversættelsesfejl.
Dokumenter
Udbyder
Bemærk: Registrer dig gratis eller log ind, for at få adgang til alle oplysninger.
Registreret siden: 2014
Telefon & Fax
+49 351 8... annoncer
Din annonce er blevet slettet
Der opstod en fejl