MålesystemASML
YieldStar S-200B
Målesystem
ASML
YieldStar S-200B
Produktionsår
2011
Stand
Brugt
Beliggenhed
Dresden 

Vis billeder
Vis kort
Oplysninger om maskinen
- Maskinbetegnelse:
- Målesystem
- Producent:
- ASML
- Model:
- YieldStar S-200B
- Produktionsår:
- 2011
- Stand:
- meget god (brugt)
- Funktionalitet:
- fuldt funktionsdygtig
Pris og placering
- Beliggenhed:
- Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, Deutschland

Ring op
Detaljer om tilbuddet
- Annonce-ID:
- A19967480
- Referencenummer:
- DV10125
- Opdatering:
- sidst den 10.09.2025
Beskrivelse
Optisk overlay-metrologisystem, Advanced Semiconductor Materials Lithography stand-alone overlay-metrologisystem til 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Hnodpfx Aoxbnt Eof Eoi
Årgang: 2011
Tekniske data:
Waferstørrelse: 300 mm (12")
Laser kilde: LPPS, vandkøling
Generelt:
YSS200B er et optisk overlay-målesystem, der anvendes til hurtig og højpræcis måling af overlay-afvigelser på 300 mm wafers – typisk til overvågning efter ætsning for proceskontrol i produktionen som et selvstændigt system.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Model: S200B
Type: YieldStar
Hnodpfx Aoxbnt Eof Eoi
Årgang: 2011
Tekniske data:
Waferstørrelse: 300 mm (12")
Laser kilde: LPPS, vandkøling
Generelt:
YSS200B er et optisk overlay-målesystem, der anvendes til hurtig og højpræcis måling af overlay-afvigelser på 300 mm wafers – typisk til overvågning efter ætsning for proceskontrol i produktionen som et selvstændigt system.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Dokumenter
Udbyder
Bemærk: Registrer dig gratis eller log ind, for at få adgang til alle oplysninger.
Sidst online: sidste uge
Registreret siden: 2014
98 Annoncer online
Send anmodning
Telefon & Fax
+49 351 8... annoncer
Din annonce er blevet slettet
Der opstod en fejl


